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    涂層測厚儀
    型 號(hào):MiniTest 7400
    品 牌:德國EPK
    技術(shù)指標(biāo):提供了一個(gè)特制的堅(jiān)固探頭系列(HD探頭)
    清徐涂層測厚儀-MiniTest 7400-德國EPK

    創(chuàng)新的用戶界面概念結(jié)合便捷的數(shù)據(jù)管理,新產(chǎn)品MiniTest7400成為今天測量系統(tǒng)理想的解決方案。


    新概念的優(yōu)勢

    直觀的菜單控制及與上下文相關(guān)的聯(lián)機(jī)幫助,使用簡易。大背光按鍵,即使戴著手套操作,也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供極佳的觀察效果,即使在晚上或能見度極低的條件下使用也極其方便。

    配置管理幫助MiniTest 7400簡化了校準(zhǔn)及參數(shù)設(shè)置,無需專業(yè)技能,也可在最短的時(shí)間內(nèi)完成困難測量任務(wù)。先進(jìn)的數(shù)據(jù)管理如PC一樣提供快速創(chuàng)建文件夾和易于設(shè)置批組。除了數(shù)字顯示讀數(shù),層次清楚的顯示統(tǒng)計(jì)值和讀數(shù)包括趨勢圖和直方圖、過程能力指數(shù)”Cp”和“Cpk”以及組統(tǒng)計(jì)值。錯(cuò)誤的讀數(shù)可以從批組中刪除以防止產(chǎn)生錯(cuò)誤的統(tǒng)計(jì)值。

     


     龐大的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存器為必要的數(shù)據(jù)管理,可保存高達(dá)500批組的250,000個(gè)讀數(shù)。為滿足高精度測量的要求,7400探頭可達(dá)到5點(diǎn)校準(zhǔn)(包括零點(diǎn))。預(yù)設(shè)的校準(zhǔn)方法符合工業(yè)準(zhǔn)則和ISO 19840,SSPC,“瑞典”,“澳大利亞”的測量標(biāo)準(zhǔn)。 此外,延伸的特殊校準(zhǔn)方法也適用于粗糙表面的測量。 

    為了方便建立和評(píng)估測量值組和各種數(shù)據(jù)格式的輸出,標(biāo)準(zhǔn)配置包括計(jì)算機(jī)軟件包“MSoft 7 Professional”。軟件輸出數(shù)據(jù)如文本、Excel®分析總表或PDF文檔,粉末涂層測厚儀,并允許筆記和注解條目。特點(diǎn):測量樣品的圖片可以添加到數(shù)據(jù)報(bào)告中。

     

    配備眾多的接口,MiniTest 7400可以連接各種外接設(shè)備。紅外接口(IrDA®1.0)可作為標(biāo)準(zhǔn)配置。一個(gè)多用接線盒可用來作為一個(gè)USB接口連接各種設(shè)備,如外借電源、耳機(jī)、腳踏開關(guān)或警報(bào)器。對(duì)于單個(gè)裝置連接,則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA®//USB接口轉(zhuǎn)換器。

    模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過去,數(shù)字信號(hào)處理將成為未來的趨勢。


    SIDSP® 明顯優(yōu)勢

    EPK此項(xiàng)探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理新技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。高精度,高重現(xiàn)性,對(duì)溫度變化不敏感,適應(yīng)性強(qiáng),這些都是SIDSP®的主要特點(diǎn)。創(chuàng)新的生產(chǎn)技術(shù)結(jié)合自動(dòng)化校準(zhǔn)過程,而且每個(gè)探頭可獨(dú)立校準(zhǔn),從而生產(chǎn)出高質(zhì)量7400的探頭。

    這主要源于充分利用了SIDSP技術(shù)賦予的優(yōu)勢。無與倫比的精密生產(chǎn)過程使得每個(gè)探頭都如出一轍的優(yōu)質(zhì)。


    重現(xiàn)性

    讀數(shù)的可靠性主要取決于讀數(shù)的重現(xiàn)性。電磁干擾是最普遍的導(dǎo)致誤差的根源,所以保護(hù)測量系統(tǒng)和探頭電纜免受這些干擾非常重要。

    跟傳統(tǒng)技術(shù)不同,SIDSP®在探頭內(nèi)部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào)。回傳的信號(hào)直接進(jìn)行數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理從而提供測量厚度值。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置,也就是說:在這種情況下模擬測量系統(tǒng)的信號(hào)傳輸過程中沒有更多干擾。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題,加長的電纜線同樣具有極強(qiáng)的抗干擾能力。

    EPK 的SIDSP®探頭具有極高的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點(diǎn)測量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果,再次證明了SIDSP®探頭的優(yōu)秀性能。


    生產(chǎn)過程

    在生產(chǎn)過程中,SIDSP探頭要經(jīng)過特殊的校準(zhǔn)程序,探頭在特征曲線上高達(dá)50個(gè)點(diǎn)進(jìn)行校準(zhǔn),如此多個(gè)點(diǎn)的校準(zhǔn)使得特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都十分精確以致可以消除其偏差。校準(zhǔn)數(shù)據(jù)被永久儲(chǔ)存在傳感器,無論與哪一種SIDSP顯示器相連,都可以迅速地被檢索。此外,qnix涂層測厚儀,生產(chǎn)過程中,探頭的溫度性能永久地決定整個(gè)工作溫度范圍。這樣,每個(gè)探頭都可以獨(dú)立調(diào)整溫度補(bǔ)償,在任何溫度即使溫度大幅度變動(dòng),特征曲線仍可保持其精確度。

     


    探頭的適應(yīng)性

    有色金屬的導(dǎo)電性可能會(huì)有所不同。對(duì)這些基體使用自動(dòng)補(bǔ)償,基于電渦流原理可以使用N型探頭或者FN型探頭的N功能,可以精確測量多種導(dǎo)電性不同的有色金屬材料,無需特別在基體上校準(zhǔn)儀器。

    所有的SIDSP®探頭充分地適應(yīng)測量各種幾何形狀的樣品?梢詫(duì)不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無涂層基體上校零時(shí),整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。


     探頭設(shè)計(jì)選擇

    不同的線纜插口類型更加靈活,來適應(yīng)測試要求。每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)探頭都可以提供直線纜插口或直角設(shè)計(jì),涂層測厚儀 說明書,后者可以測量難以進(jìn)入的類似管和中空零件。

     

    對(duì)由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供最終保護(hù),MiniTest 7400提供了一個(gè)特制的堅(jiān)固探頭系列(HD探頭)。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護(hù)探頭設(shè)備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。

    對(duì)于粗糙表面,“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。

     



    MiniTest 7400 探頭

    可選探頭

    種類繁多的可換探頭,滿足各種應(yīng)用要求。

    可以通過推拉式連接系統(tǒng)輕松地更換探頭。

     兩用型FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體材料。

    與表面接觸后,儀器自動(dòng)切換到合適的測量原理。 因此,應(yīng)用錯(cuò)誤會(huì)被淘汰,加快了測量進(jìn)程。

    探頭技術(shù)參數(shù)

     

    1.多點(diǎn)校準(zhǔn),在實(shí)驗(yàn)室條件下符合提供的標(biāo)準(zhǔn)

    2.零點(diǎn)校準(zhǔn),并且校準(zhǔn)值和預(yù)期的涂層厚度接近

    3.使用精密支架,不適用HD探頭

    4.如果選擇“快速”,測量速度主要取決于操作

    5.根據(jù) DIN 55350第13部分

    6.多點(diǎn)校準(zhǔn)值優(yōu)于獲得的指定數(shù)據(jù).

    7.包括涂層

    探頭設(shè)計(jì)選擇

    不同的線纜插口類型更加靈活,來適應(yīng)測試要求。每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)探頭都可以提供直線纜插口或直角設(shè)計(jì),后者可以測量難以進(jìn)入的類似管和中空零件。


    對(duì)由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供最終保護(hù),MiniTest 7400提供了一個(gè)特制的堅(jiān)固探頭系列(HD探頭)。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護(hù)探頭設(shè)備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。

            F 2 HD 探頭

    對(duì)于粗糙表面,“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。

    MiniTest 7400 主機(jī)技術(shù)參數(shù)

    MiniTest 7400 可選配件


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