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創(chuàng)新的用戶界面概念結合便捷的數(shù)據(jù)管理,新產(chǎn)品MiniTest7400成為今天測量系統(tǒng)理想的解決方案。
新概念的優(yōu)勢 直觀的菜單控制及與上下文相關的聯(lián)機幫助,使用簡易。大背光按鍵,即使戴著手套操作,也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供極佳的觀察效果,即使在晚上或能見度極低的條件下使用也極其方便。 配置管理幫助MiniTest 7400簡化了校準及參數(shù)設置,無需專業(yè)技能,也可在最短的時間內(nèi)完成困難測量任務。先進的數(shù)據(jù)管理如PC一樣提供快速創(chuàng)建文件夾和易于設置批組。除了數(shù)字顯示讀數(shù),層次清楚的顯示統(tǒng)計值和讀數(shù)包括趨勢圖和直方圖、過程能力指數(shù)”Cp”和“Cpk”以及組統(tǒng)計值。錯誤的讀數(shù)可以從批組中刪除以防止產(chǎn)生錯誤的統(tǒng)計值。
龐大的數(shù)據(jù)儲存器為必要的數(shù)據(jù)管理,可保存高達500批組的250,000個讀數(shù)。為滿足高精度測量的要求,7400探頭可達到5點校準(包括零點)。預設的校準方法符合工業(yè)準則和ISO 19840,SSPC,“瑞典”,“澳大利亞”的測量標準。 此外,延伸的特殊校準方法也適用于粗糙表面的測量。 為了方便建立和評估測量值組和各種數(shù)據(jù)格式的輸出,標準配置包括計算機軟件包“MSoft 7 Professional”。軟件輸出數(shù)據(jù)如文本、Excel®分析總表或PDF文檔,并允許筆記和注解條目。特點:測量樣品的圖片可以添加到數(shù)據(jù)報告中。
配備眾多的接口,MiniTest 7400可以連接各種外接設備。紅外接口(IrDA®1.0)可作為標準配置。一個多用接線盒可用來作為一個USB接口連接各種設備,如外借電源、耳機、腳踏開關或警報器。對于單個裝置連接,則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA®//USB接口轉(zhuǎn)換器。 模擬信號處理時代已成過去,數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢。
SIDSP® 明顯優(yōu)勢 EPK此項探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理新技術為涂層測厚領域的創(chuàng)新奠定了新標準。高精度,高重現(xiàn)性,對溫度變化不敏感,鍍層厚度,適應性強,這些都是SIDSP®的主要特點。創(chuàng)新的生產(chǎn)技術結合自動化校準過程,而且每個探頭可獨立校準,從而生產(chǎn)出高質(zhì)量7400的探頭。 這主要源于充分利用了SIDSP技術賦予的優(yōu)勢。無與倫比的精密生產(chǎn)過程使得每個探頭都如出一轍的優(yōu)質(zhì)。
重現(xiàn)性 讀數(shù)的可靠性主要取決于讀數(shù)的重現(xiàn)性。電磁干擾是最普遍的導致誤差的根源,所以保護測量系統(tǒng)和探頭電纜免受這些干擾非常重要。 跟傳統(tǒng)技術不同,SIDSP®在探頭內(nèi)部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號;貍鞯男盘栔苯舆M行數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理從而提供測量厚度值。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置,也就是說:在這種情況下模擬測量系統(tǒng)的信號傳輸過程中沒有更多干擾。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題,加長的電纜線同樣具有極強的抗干擾能力。 EPK 的SIDSP®探頭具有極高的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點測量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結果,再次證明了SIDSP®探頭的優(yōu)秀性能。
探頭的適應性 有色金屬的導電性可能會有所不同。對這些基體使用自動補償,基于電渦流原理可以使用N型探頭或者FN型探頭的N功能,可以精確測量多種導電性不同的有色金屬材料,無需特別在基體上校準儀器。 所有的SIDSP®探頭充分地適應測量各種幾何形狀的樣品?梢詫Σ灰(guī)則形狀表面做出補償。當您在無涂層基體上校零時,整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎上進行校準。
探頭設計選擇 不同的線纜插口類型更加靈活,來適應測試要求。每個標準探頭都可以提供直線纜插口或直角設計,后者可以測量難以進入的類似管和中空零件。
對由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供最終保護,MiniTest 7400提供了一個特制的堅固探頭系列(HD探頭)。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護探頭設備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。 對于粗糙表面,“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。
MiniTest 7400 探頭 可選探頭 種類繁多的可換探頭,滿足各種應用要求。 可以通過推拉式連接系統(tǒng)輕松地更換探頭。
兩用型FN探頭自動識別基體材料。 與表面接觸后,儀器自動切換到合適的測量原理。 因此,應用錯誤會被淘汰,加快了測量進程。
探頭技術參數(shù)
1.多點校準,在實驗室條件下符合提供的標準 2.零點校準,并且校準值和預期的涂層厚度接近 3.使用精密支架,phynix涂層測厚儀,不適用HD探頭 4.如果選擇“快速”,測量速度主要取決于操作 5.根據(jù) DIN 55350第13部分 6.多點校準值優(yōu)于獲得的指定數(shù)據(jù). 7.包括涂層 探頭設計選擇 不同的線纜插口類型更加靈活,來適應測試要求。每個標準探頭都可以提供直線纜插口或直角設計,后者可以測量難以進入的類似管和中空零件。
對由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供最終保護,MiniTest 7400提供了一個特制的堅固探頭系列(HD探頭)。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護探頭設備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。
F 2 HD 探頭 對于粗糙表面,“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。 MiniTest 7400 主機技術參數(shù)
MiniTest 7400 可選配件
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