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    涂層測厚儀
    型 號:MiniTest 7400
    品 牌:德國EPK
    技術(shù)指標:提供了一個(gè)特制的堅固探頭系列(HD探頭)
    承德涂層測厚儀-MiniTest 7400-德國EPK

    創(chuàng )新的用戶(hù)界面概念結合便捷的數據管理,新產(chǎn)品MiniTest7400成為今天測量系統理想的解決方案。


    新概念的優(yōu)勢

    直觀(guān)的菜單控制及與上下文相關(guān)的聯(lián)機幫助,使用簡(jiǎn)易。大背光按鍵,即使戴著(zhù)手套操作,也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供極佳的觀(guān)察效果,即使在晚上或能見(jiàn)度極低的條件下使用也極其方便。

    配置管理幫助MiniTest 7400簡(jiǎn)化了校準及參數設置,無(wú)需專(zhuān)業(yè)技能,也可在最短的時(shí)間內完成困難測量任務(wù)。先進(jìn)的數據管理如PC一樣提供快速創(chuàng )建文件夾和易于設置批組。除了數字顯示讀數,層次清楚的顯示統計值和讀數包括趨勢圖和直方圖、過(guò)程能力指數”Cp”和“Cpk”以及組統計值。錯誤的讀數可以從批組中刪除以防止產(chǎn)生錯誤的統計值。

     


     龐大的數據儲存器為必要的數據管理,可保存高達500批組的250,000個(gè)讀數。為滿(mǎn)足高精度測量的要求,7400探頭可達到5點(diǎn)校準(包括零點(diǎn))。預設的校準方法符合工業(yè)準則和ISO 19840,SSPC,“瑞典”,“澳大利亞”的測量標準。 此外,延伸的特殊校準方法也適用于粗糙表面的測量。 

    為了方便建立和評估測量值組和各種數據格式的輸出,標準配置包括計算機軟件包“MSoft 7 Professional”。軟件輸出數據如文本、Excel®分析總表或PDF文檔,并允許筆記和注解條目。特點(diǎn):測量樣品的圖片可以添加到數據報告中。

     

    配備眾多的接口,MiniTest 7400可以連接各種外接設備。紅外接口(IrDA®1.0)可作為標準配置。一個(gè)多用接線(xiàn)盒可用來(lái)作為一個(gè)USB接口連接各種設備,如外借電源、耳機、腳踏開(kāi)關(guān)或警報器。對于單個(gè)裝置連接,則可選擇RS 232和USB連接線(xiàn)以及IrDA®//USB接口轉換器。

    模擬信號處理時(shí)代已成過(guò)去,數字信號處理將成為未來(lái)的趨勢。


    SIDSP® 明顯優(yōu)勢

    EPK此項探頭內部數字信號處理新技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng )新奠定了新標準。高精度,高重現性,對溫度變化不敏感,適應性強,這些都是SIDSP®的主要特點(diǎn)。創(chuàng )新的生產(chǎn)技術(shù)結合自動(dòng)化校準過(guò)程,日照涂層測厚儀應用,而且每個(gè)探頭可獨立校準,從而生產(chǎn)出高質(zhì)量7400的探頭。

    這主要源于充分利用了SIDSP技術(shù)賦予的優(yōu)勢。無(wú)與倫比的精密生產(chǎn)過(guò)程使得每個(gè)探頭都如出一轍的優(yōu)質(zhì)。


    重現性

    讀數的可靠性主要取決于讀數的重現性。電磁干擾是最普遍的導致誤差的根源,所以保護測量系統和探頭電纜免受這些干擾非常重要。

    跟傳統技術(shù)不同,SIDSP®在探頭內部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號;貍鞯男盘栔苯舆M(jìn)行數字轉換和處理從而提供測量厚度值。厚度值通過(guò)探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置,涂層磁性測厚儀,也就是說(shuō):在這種情況下模擬測量系統的信號傳輸過(guò)程中沒(méi)有更多干擾。即使您的測量工件需要特別長(cháng)的電纜線(xiàn)也沒(méi)問(wèn)題,加長(cháng)的電纜線(xiàn)同樣具有極強的抗干擾能力。

    EPK 的SIDSP®探頭具有極高的重現性。將探頭放在同一測量點(diǎn)測量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結果,再次證明了SIDSP®探頭的優(yōu)秀性能。


    生產(chǎn)過(guò)程

    在生產(chǎn)過(guò)程中,SIDSP探頭要經(jīng)過(guò)特殊的校準程序,探頭在特征曲線(xiàn)上高達50個(gè)點(diǎn)進(jìn)行校準,如此多個(gè)點(diǎn)的校準使得特征曲線(xiàn)在整個(gè)量程范圍內都十分精確以致可以消除其偏差。校準數據被永久儲存在傳感器,無(wú)論與哪一種SIDSP顯示器相連,都可以迅速地被檢索。此外,生產(chǎn)過(guò)程中,探頭的溫度性能永久地決定整個(gè)工作溫度范圍。這樣,每個(gè)探頭都可以獨立調整溫度補償,在任何溫度即使溫度大幅度變動(dòng),特征曲線(xiàn)仍可保持其精確度。

     


    探頭的適應性

    有色金屬的導電性可能會(huì )有所不同。對這些基體使用自動(dòng)補償,基于電渦流原理可以使用N型探頭或者FN型探頭的N功能,可以精確測量多種導電性不同的有色金屬材料,無(wú)需特別在基體上校準儀器。

    所有的SIDSP®探頭充分地適應測量各種幾何形狀的樣品?梢詫Σ灰巹t形狀表面做出補償。當您在無(wú)涂層基體上校零時(shí),整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎上進(jìn)行校準。


     探頭設計選擇

    不同的線(xiàn)纜插口類(lèi)型更加靈活,來(lái)適應測試要求。每個(gè)標準探頭都可以提供直線(xiàn)纜插口或直角設計,后者可以測量難以進(jìn)入的類(lèi)似管和中空零件。

     

    對由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供最終保護,MiniTest 7400提供了一個(gè)特制的堅固探頭系列(HD探頭)。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來(lái)保護探頭設備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。

    對于粗糙表面,“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。

     



    MiniTest 7400 探頭

    可選探頭

    種類(lèi)繁多的可換探頭,滿(mǎn)足各種應用要求。

    可以通過(guò)推拉式連接系統輕松地更換探頭。

     兩用型FN探頭自動(dòng)識別基體材料。

    與表面接觸后,儀器自動(dòng)切換到合適的測量原理。 因此,應用錯誤會(huì )被淘汰,加快了測量進(jìn)程。

    探頭技術(shù)參數

     

    1.多點(diǎn)校準,在實(shí)驗室條件下符合提供的標準

    2.零點(diǎn)校準,并且校準值和預期的涂層厚度接近

    3.使用精密支架,電渦流涂層測厚儀,不適用HD探頭

    4.如果選擇“快速”,測量速度主要取決于操作

    5.根據 DIN 55350第13部分

    6.多點(diǎn)校準值優(yōu)于獲得的指定數據.

    7.包括涂層

    探頭設計選擇

    不同的線(xiàn)纜插口類(lèi)型更加靈活,來(lái)適應測試要求。每個(gè)標準探頭都可以提供直線(xiàn)纜插口或直角設計,后者可以測量難以進(jìn)入的類(lèi)似管和中空零件。


    對由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供最終保護,MiniTest 7400提供了一個(gè)特制的堅固探頭系列(HD探頭)。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來(lái)保護探頭設備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。

            F 2 HD 探頭

    對于粗糙表面,“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。

    MiniTest 7400 主機技術(shù)參數

    MiniTest 7400 可選配件


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