整體式
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量程 1
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測(cè)量范圍: 0-1500μm (0-60mils)
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精確度*: ±1-3% 或 ±2.5μm (±0.1mil)
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分辨率: 0.1μm: 0-100μm; 1μm: 100-1500μm (0.01mil: 0-5mils; 0.1mil: 5-60mils)
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E型(E)
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基本型(B)
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標(biāo)準(zhǔn)型(S)
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高級(jí)型(T)
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證書
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易高Elcometer456鐵基整體式儀器
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A456CFEI1
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A456CFBI1
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A456CFSI1
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A456CFTI1
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●
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易高Elcometer456非鐵基整體式儀器
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-
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A456CNBI1
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參見(jiàn)帶有N2PINIP™探頭
的分體式儀器
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參見(jiàn)帶有N2PINIP™探頭
的分體式儀器
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●
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易高Elcometer456兩用整體式儀器
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A456CFNFEI1
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A456CFNFBI1
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A456CFNFSI1
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A456CFNFTI1
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●
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量程 2
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測(cè)量范圍: 0-5mm (0-200mils)
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精確度*: ±1-3% 或 ±20μm (±1.0mil)
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分辨率: 1μm: 0-1mm; 10μm: 1-5mm (0.1mil: 0-50mils; 1mil: 50-200mils)
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要想在薄涂層上具有更高的分辨率和準(zhǔn)確性,涂層測(cè)厚儀檢定,量程2儀器可轉(zhuǎn)換為量程1模式
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E型(E)
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基本型(B)
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標(biāo)準(zhǔn)型(S)
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高級(jí)型(T)
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證書
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易高Elcometer456鐵基整體式儀器
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-
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A456CFBI2
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參見(jiàn)帶有F2PINIP™探頭
的分體式儀器
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參見(jiàn)帶有F2PINIP™探頭
的分體式儀器
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●
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量程 3
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測(cè)量范圍: 0-13mm (0-500mils)
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精確度*: ±1-3% 或 ±50μm (±2.0mils)
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分辨率: 1μm: 0-2mm; 10μm: 2-13mm (0.1mil: 0-100mils; 1mil: 100-500mils)
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E型(E)
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基本型(B)
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標(biāo)準(zhǔn)型(S)
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高級(jí)型(T)
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證書
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易高Elcometer456鐵基整體式儀器
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-
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A456CFBI3
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參見(jiàn)帶有F3PINIP™探頭
的分體式儀器
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參見(jiàn)帶有F3PINIP™探頭
的分體式儀器
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●
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分體式儀器
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E型(E)
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基本型(B)
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標(biāo)準(zhǔn)型(S)
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高級(jí)型(T)
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證書
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易高Elcometer456鐵基分體式儀器
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-
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A456CFBS
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A456CFSS
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A456CFTS
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●
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易高Elcometer456非鐵基分體式儀器
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-
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A456CNBS
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A456CNSS
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A456CNTS
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●
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易高Elcometer456兩用分體式儀器
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-
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A456CFNFBS
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A456CFNFSS
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A456CFNFTS
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●
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探頭是單獨(dú)提供
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