|
|
|
X 射線熒光測量系統(tǒng) |
|
| 型 號：X-RAY 5000 |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術(shù)指標(biāo)：在生產(chǎn)過程中對薄鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe進(jìn)行連續(xù)在線測量和分析 |
 |
昭通X 射線熒光測量系統(tǒng)-X-RAY 5000-德國菲希爾Fischer
X 射線熒光測量系統(tǒng)，北京時代涂層測厚儀，用于在生產(chǎn)過程中對薄鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe進(jìn)行連續(xù)在線測量和分析
特點(diǎn)
-
法蘭測量頭，涂層膜厚測試儀，用于在生產(chǎn)線中進(jìn)行連續(xù)測量
-
X射線探測器可以為比例計數(shù)管，qnix1200涂層測厚儀，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探測器
-
在生產(chǎn)過程中直接用典型產(chǎn)品進(jìn)行快速簡單校
-
可在真空或大氣中使用
-
可以在最高 500° C 的高溫基材上進(jìn)行測量
-
堅(jiān)固和耐用是設(shè)計的重心
典型應(yīng)用領(lǐng)域
-
光伏技術(shù)（CIGS，日照涂層測厚儀應(yīng)用，CIS，涂層測厚儀 北京時代，CdTe）
-
分析對金屬帶、金屬薄膜和塑料薄膜上的鍍層
-
連續(xù)生產(chǎn)線
-
噴射和電鍍生產(chǎn)線監(jiān)測
-
測量大面積樣品
|
