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X射線熒光測(cè)量?jī)x，數(shù)字涂層測(cè)厚儀，用于快速、無(wú)損分析黃金和銀合金

特點(diǎn)

• 為無(wú)損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設(shè)計(jì)
• 配備固定的準(zhǔn)直器和基本慮片，德國(guó)涂層測(cè)厚儀，特別適用于貴金屬分析
• 配備高分辨率硅漂移探測(cè)器 (SDD)，無(wú)損涂層測(cè)厚儀，適用于更復(fù)雜的多元素分析
• 由下至上的測(cè)量方向，涂層測(cè)厚儀epk，可以最簡(jiǎn)便地實(shí)現(xiàn)樣品定位  

典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 在珠寶和鐘表行業(yè)中的黃金和貴重金屬分析
• 牙科行業(yè)中的材料合金分析