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Struers TenuPol-5：自動(dòng)試樣電解修磨設(shè)備，金相鑲嵌機(jī)使用方法，用來(lái)在透射電子顯微鏡下觀察。試樣兩側(cè)同時(shí)拋光，自動(dòng)金相試樣鑲嵌機(jī)，幾分鐘內(nèi)即可完成，金相鑲嵌機(jī) 英文，且變形量最小。

獨(dú)一無(wú)二的優(yōu)勢(shì)和技術(shù)！

- 掃描功能 
通過(guò)內(nèi)置掃描功能確定適當(dāng)?shù)膾伖怆妷骸?

- 內(nèi)置數(shù)據(jù)庫(kù) 
包括18種司特爾制樣方法和多達(dá)200種用戶自定義方法。

- 自動(dòng)停止 
當(dāng)試樣出現(xiàn)穿孔時(shí)，金相鑲嵌機(jī)，紅外光可以使磨薄過(guò)程自動(dòng)停止。

- 預(yù)磨薄 
為避免大型試樣的機(jī)械變形，金相試樣鑲嵌機(jī)，可進(jìn)行電解預(yù)磨薄。 

- 同步磨薄 
為避免試樣的結(jié)構(gòu)受損，自動(dòng)金相鑲嵌機(jī)，可從試樣兩面同時(shí)進(jìn)行磨薄。

采用TenuPol-5后，提供金相試樣鑲嵌機(jī)，可以在短短幾分鐘之內(nèi)將直徑為3毫米或2.3毫米的試樣制備成透射電鏡用帶孔試樣。因從試樣兩面同時(shí)進(jìn)行拋光，金相鑲嵌機(jī)操作規(guī)程，故試樣變形被降到最低程度。當(dāng)試樣出現(xiàn)穿孔時(shí)，紅外線探測(cè)系統(tǒng)會(huì)使拋光過(guò)程自動(dòng)停止，金相試樣鑲嵌機(jī)價(jià)格，這時(shí)試樣就可以用于TEM檢查。操作人員無(wú)需接受專門(mén)培訓(xùn)。另外，自動(dòng)金相巖相試樣鑲嵌機(jī)，本設(shè)備也便于電解預(yù)磨薄或落料。