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X 射線熒光測試儀 |
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| 型 號：XDAL |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術(shù)指標(biāo)：不適合測量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu) |
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瀘州X 射線熒光測試儀-XDAL-德國菲希爾Fischer
X 射線熒光測試儀，x熒光涂層測厚儀，帶有可編程的 X/Y平臺和Z軸，菲希爾mpo涂層測厚儀，可自動測量鍍層厚度和分析材料組分
特點
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配備了半導(dǎo)體探測器，日照涂層測厚儀應(yīng)用，由于有更好的信噪比，elcometer涂層測厚儀，能更精確地進行元素分析和薄鍍層測量
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使用微聚焦管可以測量較小的測量點，涂層測厚儀說明書，但因為其信號量較低，涂層測厚儀探頭，不適合測量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu)
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底部C型開槽的大容量測量艙
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有彈出功能的快速、可編程XY平臺
典型應(yīng)用領(lǐng)域
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鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）
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來料檢驗，mpo 涂層測厚儀，生產(chǎn)監(jiān)控
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研究和開發(fā)
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電子工業(yè)
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接插件和觸點
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黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
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可以測量數(shù)納米薄的鍍層，穿越涂層測厚儀，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
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痕量元素分析
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在有“高可靠性”要求的應(yīng)用中確定鉛（Pb）含量
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硬質(zhì)鍍層分析
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