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X 射線熒光測(cè)試儀 |
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| 型 號(hào)：XDAL |
| 品 牌：德國(guó)菲希爾Fischer |
| 技術(shù)指標(biāo)：不適合測(cè)量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu) |
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樂(lè)山X 射線熒光測(cè)試儀-XDAL-德國(guó)菲希爾Fischer
X 射線熒光測(cè)試儀，筆式涂層測(cè)厚儀，帶有可編程的 X/Y平臺(tái)和Z軸，涂層測(cè)厚儀應(yīng)用，可自動(dòng)測(cè)量鍍層厚度和分析材料組分
特點(diǎn)
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配備了半導(dǎo)體探測(cè)器，電渦流涂層測(cè)厚儀，由于有更好的信噪比，涂層測(cè)厚儀用途，能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測(cè)量
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使用微聚焦管可以測(cè)量較小的測(cè)量點(diǎn)，便攜式涂層測(cè)厚儀，但因?yàn)槠湫盘?hào)量較低，鉻層測(cè)厚儀，不適合測(cè)量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu)
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底部C型開(kāi)槽的大容量測(cè)量艙
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有彈出功能的快速、可編程XY平臺(tái)
典型應(yīng)用領(lǐng)域
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鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）
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來(lái)料檢驗(yàn)，紅外線測(cè)厚儀，生產(chǎn)監(jiān)控
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研究和開(kāi)發(fā)
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電子工業(yè)
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接插件和觸點(diǎn)
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黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
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可以測(cè)量數(shù)納米薄的鍍層，mpo涂層測(cè)厚儀，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
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痕量元素分析
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在有“高可靠性”要求的應(yīng)用中確定鉛（Pb）含量
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硬質(zhì)鍍層分析
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