|
|
|
表面粗糙度、輪廓形狀一體測量儀 |
|
| 型 號：SV-C3200/SV-C4500 |
| 品 牌：日本三豐Mitutoyo |
技術(shù)指標：測量范圍 X 軸 (驅(qū)動部) 100mm
Z1 軸 (檢出器) 800μm/80μm/8μm |
 |
果洛表面粗糙度、輪廓形狀一體測量儀-SV-C3200/SV-C4500-日本三豐Mitutoyo
Formtracer表面粗糙度、輪廓形狀一體機
Formtracer SV-C3200/4500 525 系列 — 表面粗糙度和輪廓測量系統(tǒng)
通過更換檢測器，三豐粗糙度儀價格，一臺機器上即能測量表面粗糙度和輪廓形狀的高精度一體型測量機 ，同時能測量表面粗糙度和測量輪廓形狀的混合型測量機 。
產(chǎn)品特點
|
• 高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供。Z1軸的最高顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)。
|
|
• X軸內(nèi)置高精度玻璃光柵尺，time粗糙度儀，直接讀取X軸移動距離，mitutoyo粗糙度測試儀，在高精度精準定位下，粗糙度輪廓測量儀，完成間距參數(shù)的評價。
|
|
• 檢出器測力有4mN和0.75mN可選。
|
|
|
|
•
Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號相比，新測臂使Z1
軸測量范圍增大了10mm 同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，無錫粗糙度儀，提高了易用性。
|
• 專為SV-C-4500系列增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統(tǒng)的專用功能。
裝配雙錐面測針，實現(xiàn)垂直方向(上/下)連續(xù)測量，粗糙度測定儀，所獲取的數(shù)據(jù)實現(xiàn)簡單分析以往難以測量的內(nèi)螺紋有效直徑。測力可在FORMTRACEPAK軟件中設(shè)置。無需調(diào)整配重。
|
|
•卓越的表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK分析程序，通過簡單的操作就能進行高級分析并即刻輸出結(jié)果。
|
|
• 表面粗糙度測試儀和輪廓測量儀結(jié)合在一起，美國粗糙度儀，節(jié)省安裝空間。
|
|
|
• 測臂安裝為一鍵式裝卸 (此項專利權(quán)在日本受理中)
測臂安裝部采用了磁性連接件，英國泰勒粗糙度儀，實現(xiàn)了快速更換。此外，馬爾粗糙度儀，裝卸部內(nèi)置了安全結(jié)構(gòu)。
|
•繁瑣的校正也可以上下兩面連續(xù)一次性完成(此項專利權(quán)在日本受理中)
SV-C4500 系列使用專業(yè)校正規(guī)(標配附件)，煙臺粗糙度儀，通過改進使得上下兩方附帶從動件的上下圓錐測針能簡便易行地進行校正。Z1 軸增益、對稱性、探針半徑等繁瑣的校正工作一次便可完成。
|
產(chǎn)品規(guī)格
|
貨號
|
SV-C3200S4
|
SV-C3200H4
|
SV-C3200W4
|
SV-C3200S8
|
SV-C3200H8
|
SV-C3200W8
|
|
SV-C4500S4
|
SV-C4500H4
|
SV-C4500W4
|
SV-C4500S8
|
SV-C4500H8
|
SV-C4500W8
|
|
測量表面粗糙度時
|
|
測量范圍
|
X 軸 (驅(qū)動部)
|
100mm
|
200mm
|
|
Z1 軸 (檢出器)
|
800μm/80μm/8μm
|
|
直線度
|
(0.05+L/1000) μm L: 驅(qū)動長度 (mm)
|
0.5μm/200mm
|
|
分辨力
|
Z1軸（檢出器）
|
0.01μm(800μm), 0.001μm(80μm), 0.0001μm(8μm)
|
|
測力
|
0.75mN (機身代碼末尾帶 “-1”的型號)
4mN (機身代碼末尾帶“-2”的型號)
|
|
測針針尖形狀
|
60º, 2μmR (機身代碼末尾帶 “-1”的型號)
90º, 5μmR (機身代碼末尾帶 “-2”的型號)
|
|
對應(yīng)尺寸
|
JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA
|
|
評價參數(shù)
|
Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, P q, Pmr(C), Pmr, P&c, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz,
Rt, Rc, RSm, R q, Rmr(C), Rmr, R c, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, W q,
Wmr(C), Wmr, W c, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN,
RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, a, a, q, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW
|
|
評價輪廓
|
原始輪廓、粗糙度輪廓、濾波波紋輪廓、波紋輪廓、滾動圓波形原始輪廓、滾動圓波形
輪廓、包絡(luò)殘余線、DF 輪廓 (DIN4776 / ISO13565-1)、表面粗糙度MOTIF (包絡(luò)波紋輪廓在評
價MOTIF 時顯示)
|
|
分析圖
|
負荷曲線、振幅分布曲線、功率譜、自相關(guān)、Walsh 功率譜、 Walsh 自相關(guān)、頂峰分布、
傾斜角分布、參數(shù)分布(磨損量、重疊在輪廓分析可以用于面積等的原始分析)
|
|
曲線補償
|
最小平方直線、R 面補償、橢圓補償、拋物線補償、雙曲線補償、二次曲線補償、多項式
補償(自動或任意2~7 次)、無補償
|
|
濾波器
|
高斯濾波器, 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50, 魯棒樣條濾波器
|
|
輪廓測量
|
|
測量范圍
|
X軸（驅(qū)動部）
|
100mm
|
200mm
|
|
Z1軸（檢出器）
|
60mm (測臂水平位置±30mm)
|
|
直線度
|
0.8μm/100mm
|
2μm/200mm
|
|
精度
|
X軸（驅(qū)動部）
|
±(0.8+0.01L)μm L: 驅(qū)動長度 (mm)
|
±(0.8+0.02L)μm L = 驅(qū)動長度 (mm)
|
|
Z1軸（檢出器）
|
SV-C3200 系列: ±(1.6+|2H|/100)μm, SV-C4500 系列: ±(0.8+|2H|/100)μm
H: 水平位置上的測量高度 (mm)
|
|
分辨力
|
X軸（驅(qū)動部）
|
0.05 μm
|
|
Z1軸（檢出器）
|
SV-C3200 系列: 0.04μm, SV-C4500 系列: 0.02μm
|
|
Z2軸（立性）
|
1 μm
|
|
測力
|
SV-C3200 系列: 30mN (可調(diào)使用重量)
SV-C4500 系列: 10, 20, 30, 40, 50mN (根據(jù)軟件轉(zhuǎn)換)
|
|
側(cè)頭方向
|
SV-C3200 系列: 垂直方向 (向上/ 向下單獨測量)
SV-C4500 系列: 垂直方向 (向上/ 向根據(jù)配重調(diào)整)
|
|
通用時
|
|
Z2軸 (立柱) 移動量
|
300mm
|
500mm
|
300mm
|
500mm
|
|
X 軸傾斜角度
|
±45º
|
|
驅(qū)動速度
|
X 軸0
|
0 - 80mm/s 外加手動
|
|
Z2 軸 (立柱)
|
0 - 30mm/s 外加手動
|
|
測量速度
|
0.02 - 5mm/s
|
|
