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美國DAKOTA公司CMX系列多功能超聲波測厚儀,可測量材料的厚度,穿透涂層測量材料厚度,也可以測量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置,以獲得最佳的性價(jià)比。 CMX 除了常規(guī)的超聲波測厚儀的功能外,增加了B-掃描功能和多種測量模式,包括: - 脈沖-回波(P-E)模式,測量材料厚度 - 脈沖-回波涂層(PECT)模式,上海數(shù)字超聲波測厚儀,同時(shí)測量材料厚度和涂層厚度 - 脈沖-回波溫度補(bǔ)償(PETP)模式,測量材料厚度 - 回波-回波(E-E)模式,超聲波測厚儀聲速,穿過涂層測量材料厚度 - 回波-回波驗(yàn)證(E-EV)模式,穿過涂層測量材料厚度 - 測量涂層(CT)模式,只測量涂層厚度
在CMX的超聲波測厚儀基礎(chǔ)上,增加了存儲(chǔ)功能。 CMXDL+ 在CMXDL超聲波測厚儀的基礎(chǔ)上,增加了A掃描功能,多種探頭類型(包括雙晶探頭、單晶延遲塊探頭、單晶接觸型探頭、單晶筆形探頭),超聲波測厚儀準(zhǔn)確度,另有彩色屏幕主機(jī)可選。 技術(shù)參數(shù) 測量 脈沖-回波(P-E)模式測量范圍:0.63~1219.2mm(鋼) 脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍:0.63~1219.2mm(鋼),0.0254~2.54mm(涂層)脈沖-回波溫度補(bǔ)償(PETP)模式 測量范圍:0.63~1219.2mm(鋼) 回波-回波(E-E)模式測量范圍:2.54~152.4mm(鋼,穿過涂層測量,隨涂層厚度的不同,超聲波測厚儀使用說明,測量范圍也會(huì)變化) 回波-回波驗(yàn)證(E-EV)模式測量范圍:2.54~102mm(鋼,穿過涂層測量,隨涂層厚度的不同,測量范圍也會(huì)變化) 測量涂層(CT)模式測量范圍:0.0127~2.54mm(涂層) 分辨率:0.01mm 聲速范圍:309.88~18542m/s 單位:公制或英制 校準(zhǔn):一點(diǎn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)方式 顯示 顯示屏:1/8英寸VGA灰色顯示,超聲波測厚儀廠家,240x160象素。可視區(qū)62x45.7mm,濟(jì)南超聲波測厚儀,EL背光 B-掃描方式:基于時(shí)間的橫截面視圖。 顯示速度為每秒10到200個(gè)讀數(shù) 大數(shù)字方式:標(biāo)準(zhǔn)厚度顯示,超聲波測厚儀百科,數(shù)字高度17.78mm 厚度條形掃描:速度10Hz,超聲波測厚儀原理圖,在B-掃描和大數(shù)字顯示模式中可見 穩(wěn)定度指示:表示測量值的穩(wěn)定性 功能狀態(tài)指示:顯示當(dāng)前激活的功能 超聲波參數(shù) 測量模式:P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT 脈沖:可調(diào)方波脈沖發(fā)生器 接收:根據(jù)選擇模式在110dB范圍內(nèi)采用手動(dòng)或AGC增益控制 計(jì)時(shí):單次100MHz8位超低功耗數(shù)字化儀的精確TCXO計(jì)時(shí) 脈沖重復(fù)頻率:250Hz 探頭 頻率范圍:1~10MHz 雙晶探頭 LEMO接口,1.2米探頭線 可定制用于特殊應(yīng)用的探頭 存儲(chǔ)(僅CMXDL) 容量:內(nèi)置4GB SD卡 數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu):網(wǎng)格(字母數(shù)字)和順序(自動(dòng)識別) 屏幕捕獲:位圖圖形捕獲,用于快速記錄 數(shù)據(jù)輸出:通過USB Type-C連接的計(jì)算機(jī) 其他 鍵盤:12個(gè)觸摸鍵 電源:標(biāo)配為三節(jié)5號堿性電池 ,可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態(tài)指示。無操作五分鐘后自動(dòng)關(guān)機(jī)。USB Type-C供電 外殼:擠壓鋁機(jī)殼,底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝 工作溫度:-10~60℃ 尺寸:63.5x165x31.5mm 重量:含電池385g 包裝:ABS工程塑料箱 出廠證書:工廠校準(zhǔn)可追溯到NIST和MILSTD-45662A標(biāo)準(zhǔn)
在穿透模式下,高阻抗探頭會(huì)有更好的表現(xiàn) 表中的測量范圍為脈沖-回波模式測量范圍
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