使用涂層測厚儀時(shí)應注意的事項有以下幾點(diǎn)：

　　a 基體金屬特性

　　對于磁性方法標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

　　對于渦流方法標準片基體金屬的電性質(zhì)應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

　　b基體金屬厚度

　　檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度如果沒(méi)有，涂層測厚儀維修可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準。

　　c 邊緣效應

　　不應在緊靠試件的突變處如邊緣、洞和內轉角等處進(jìn)行測量。

　　d 曲率

　　不應在試件的彎曲表面上測量。

　　e讀數次數

　　通常由于儀器的每次讀數并不完全相同，因此必須在每一測量面積內取幾個(gè)讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進(jìn)行多次測量表面粗造時(shí)更應如此。

　　f表面清潔度

　　測量前應清除表面上的任何附著(zhù)物質(zhì)如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。