隨著(zhù)科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，各行各業(yè)對各種氣體的要求越來(lái)越高特別是氣體中微量水分的測量就顯得更加重要。 
露點(diǎn)法是一種古老的溫度測量方法、隨著(zhù)電子技術(shù)的發(fā)展，數字式超聲波探傷儀露點(diǎn)技術(shù)趨于完善�，F代的光點(diǎn)露點(diǎn)儀采用熱電制冷并且可以自動(dòng)補償零點(diǎn)和連續跟蹤測量露點(diǎn)。露點(diǎn)儀建立在可靠的理論基礎上具有準確度高測量范圍寬的特點(diǎn)其準確度僅次于重量法濕度計。因此它不僅是一種工作儀器而且也是長(cháng)期以來(lái)普遍采用的標準儀器。露點(diǎn)儀廣泛用于工業(yè)過(guò)程和實(shí)驗室的溫度測量與控制以及氣體行業(yè)中水分指標測量等。在現代溫度測量技術(shù)中占有相當重要的位置。 
如何正確使用露點(diǎn)儀以及在實(shí)際測量中應注意的問(wèn)題： 
1． 鏡面的污染對露點(diǎn)測量的影響 
在露點(diǎn)測量中鏡面污染是一個(gè)突出的問(wèn)題特別是工業(yè)流程氣體分析污染的影響是比較嚴重的但即使是在純氣體的測量中鏡面的污染亦會(huì )隨時(shí)間的增加而積累。為了消除污染的影響最直觀(guān)的方法是對被測氣體進(jìn)行過(guò)濾。同時(shí)根據具體情況定期或隨時(shí)清洗鏡面。此外通過(guò)對鏡面的加熱并通氣吹除污染雜物在污染比較明顯的情況下也可以多次重復進(jìn)行節露和消露過(guò)程來(lái)實(shí)現。 
2． 低霜點(diǎn)測量中的問(wèn)題 
露點(diǎn)儀是微量水測量中為數不多的最有效的手段之一。但是在測量中有些問(wèn)題必須給予充分的注意。首先是影響檢測的霜層厚度問(wèn)題。] 
在低含水量的情況下霜層很薄變化也慢增加了檢霜的困難如露點(diǎn)低于-65℃鏡面上水分子移動(dòng)性很小，結晶速度相應下降從霜層的出現到相對穩定需要一定時(shí)間。霜點(diǎn)溫度越低困難越大測量誤差也迅速增加。研究表明當霜點(diǎn)溫度接近-85℃是鏡面上形成藍色絲狀結晶的薄霧。在這個(gè)溫度附近霜層的質(zhì)量密度10-8gm-2相當于一個(gè)分子層的厚度由此可見(jiàn)在更低的霜點(diǎn)溫度下測量是難以進(jìn)行的。 
另一個(gè)是過(guò)程問(wèn)題這種現象容易在高空探測中發(fā)生。 在低溫下由于冰的結晶過(guò)程緩慢往往在達到霜點(diǎn)溫度時(shí)霜層還未出現當溫度繼續降低水開(kāi)始結冰在過(guò)飽和狀態(tài)下霜層迅速形成。但此時(shí)的飽和水氣壓不是冰而應該是過(guò)冷水的飽和水氣壓如上所述由于過(guò)冷現象霜點(diǎn)測量誤差有時(shí)高達幾度因此低霜點(diǎn)測量要特別小心保持足夠長(cháng)的平衡時(shí)間。除上所述還需注意下列幾個(gè)問(wèn)題。 
ü 氣路系統一定要密封性好以防止外界環(huán)境水分往里滲漏 
ü 如果被測氣體直接排放入大氣應考慮大氣中的水分向測量系統內部擴散的問(wèn)題最常用的辦法時(shí)在排氣口接上一段適當長(cháng)的管子其長(cháng)度個(gè)管徑以不影響測量腔的壓力為原則。 
ü 取樣管要盡量短盡量減少接頭的數量和避免“死空間”以減少本底水分的干擾。 
ü 取樣管道要選用滲水性強的材料如不銹鋼聚四氟乙烯等。