隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，各行各業(yè)對(duì)各種氣體的要求越來(lái)越高特別是氣體中微量水分的測(cè)量就顯得更加重要。 
露點(diǎn)法是一種古老的溫度測(cè)量方法、隨著電子技術(shù)的發(fā)展，數(shù)字式超聲波探傷儀露點(diǎn)技術(shù)趨于完善�，F(xiàn)代的光點(diǎn)露點(diǎn)儀采用熱電制冷并且可以自動(dòng)補(bǔ)償零點(diǎn)和連續(xù)跟蹤測(cè)量露點(diǎn)。露點(diǎn)儀建立在可靠的理論基礎(chǔ)上具有準(zhǔn)確度高測(cè)量范圍寬的特點(diǎn)其準(zhǔn)確度僅次于重量法濕度計(jì)。因此它不僅是一種工作儀器而且也是長(zhǎng)期以來(lái)普遍采用的標(biāo)準(zhǔn)儀器。露點(diǎn)儀廣泛用于工業(yè)過(guò)程和實(shí)驗(yàn)室的溫度測(cè)量與控制以及氣體行業(yè)中水分指標(biāo)測(cè)量等。在現(xiàn)代溫度測(cè)量技術(shù)中占有相當(dāng)重要的位置。 
如何正確使用露點(diǎn)儀以及在實(shí)際測(cè)量中應(yīng)注意的問(wèn)題： 
1． 鏡面的污染對(duì)露點(diǎn)測(cè)量的影響 
在露點(diǎn)測(cè)量中鏡面污染是一個(gè)突出的問(wèn)題特別是工業(yè)流程氣體分析污染的影響是比較嚴(yán)重的但即使是在純氣體的測(cè)量中鏡面的污染亦會(huì)隨時(shí)間的增加而積累。為了消除污染的影響最直觀的方法是對(duì)被測(cè)氣體進(jìn)行過(guò)濾。同時(shí)根據(jù)具體情況定期或隨時(shí)清洗鏡面。此外通過(guò)對(duì)鏡面的加熱并通氣吹除污染雜物在污染比較明顯的情況下也可以多次重復(fù)進(jìn)行節(jié)露和消露過(guò)程來(lái)實(shí)現(xiàn)。 
2． 低霜點(diǎn)測(cè)量中的問(wèn)題 
露點(diǎn)儀是微量水測(cè)量中為數(shù)不多的最有效的手段之一。但是在測(cè)量中有些問(wèn)題必須給予充分的注意。首先是影響檢測(cè)的霜層厚度問(wèn)題。] 
在低含水量的情況下霜層很薄變化也慢增加了檢霜的困難如露點(diǎn)低于-65℃鏡面上水分子移動(dòng)性很小，結(jié)晶速度相應(yīng)下降從霜層的出現(xiàn)到相對(duì)穩(wěn)定需要一定時(shí)間。霜點(diǎn)溫度越低困難越大測(cè)量誤差也迅速增加。研究表明當(dāng)霜點(diǎn)溫度接近-85℃是鏡面上形成藍(lán)色絲狀結(jié)晶的薄霧。在這個(gè)溫度附近霜層的質(zhì)量密度10-8gm-2相當(dāng)于一個(gè)分子層的厚度由此可見(jiàn)在更低的霜點(diǎn)溫度下測(cè)量是難以進(jìn)行的。 
另一個(gè)是過(guò)程問(wèn)題這種現(xiàn)象容易在高空探測(cè)中發(fā)生。 在低溫下由于冰的結(jié)晶過(guò)程緩慢往往在達(dá)到霜點(diǎn)溫度時(shí)霜層還未出現(xiàn)當(dāng)溫度繼續(xù)降低水開(kāi)始結(jié)冰在過(guò)飽和狀態(tài)下霜層迅速形成。但此時(shí)的飽和水氣壓不是冰而應(yīng)該是過(guò)冷水的飽和水氣壓如上所述由于過(guò)冷現(xiàn)象霜點(diǎn)測(cè)量誤差有時(shí)高達(dá)幾度因此低霜點(diǎn)測(cè)量要特別小心保持足夠長(zhǎng)的平衡時(shí)間。除上所述還需注意下列幾個(gè)問(wèn)題。 
ü 氣路系統(tǒng)一定要密封性好以防止外界環(huán)境水分往里滲漏 
ü 如果被測(cè)氣體直接排放入大氣應(yīng)考慮大氣中的水分向測(cè)量系統(tǒng)內(nèi)部擴(kuò)散的問(wèn)題最常用的辦法時(shí)在排氣口接上一段適當(dāng)長(zhǎng)的管子其長(zhǎng)度個(gè)管徑以不影響測(cè)量腔的壓力為原則。 
ü 取樣管要盡量短盡量減少接頭的數(shù)量和避免“死空間”以減少本底水分的干擾。 
ü 取樣管道要選用滲水性強(qiáng)的材料如不銹鋼聚四氟乙烯等。