| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱(chēng)/型號(hào) | | 主要技術(shù)指標(biāo) | 價(jià)格 |
| FX-GD系列克拉天平,3200g,0.01g
FX-3000GD | 日本AND | 稱(chēng)重范圍3200g讀數(shù)精度0.01g重復(fù)精度0.01g | 洽詢(xún)
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| 精密電子分析天平,2200g,0.01g
FZ-2000i | 日本AND | 稱(chēng)重范圍：2200g | 洽詢(xún)
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| 電子分析天平,210g,0.1mg
HR-200 | 日本AND | 測(cè)量范圍:210克 | 洽詢(xún)
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| FX-iWP 系列防水精密電子天平,2200g,0.01g
FX-2000iWP | 日本AND | 量程2200g 精度 0.01g 稱(chēng)盤(pán)尺寸 Ø150mm | 洽詢(xún)
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| 日本AND MC系列精密天平
AND MC系列 | 日本AND | 標(biāo)配玻璃防風(fēng)罩（MC-1000/6100）或簡(jiǎn)易防風(fēng)罩（MC-10K/30K） | 洽詢(xún)
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| FX-iWP 系列防水精密電子天平,320g,0.001g
FX-300iWP | 日本AND | 量程 320g 精度
0.001g
稱(chēng)盤(pán)尺寸 Ø
130mm
| 洽詢(xún)
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| FX-i系列精密天平,1220g,0.01g
FX-1200i | 日本AND | FX-1200i
1220g
0.01g
直徑150mm
| 洽詢(xún)
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| 日本AND BM系列自動(dòng)微量分析天平1μg
BM系列 | 日本AND | 最小顯示精度1μg(BM-20/BM-22)<br/>元素分析/煙塵分析/環(huán)境測(cè)定/生化相關(guān)實(shí)驗(yàn)/微量分析測(cè)量 | 洽詢(xún)
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| FX-i系列精密天平,320g,0.001g
FX-300i | 日本AND | FX-300i
320g
0.001g
直徑130mm
| 洽詢(xún)
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| 微量分析天平,220g,0.1mg
GH-202 | 日本AND | 專(zhuān)業(yè)型高精度寬范圍微量天平 | 洽詢(xún)
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| 電子分析天平,210g,0.1mg
GR-202 | 日本AND | 測(cè)量范圍:210/42克 | 洽詢(xún)
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| 日本AND HR-AZ/HR-A系列分析天平
HR-AZ/HR-A系列 | 日本AND | 內(nèi)置校準(zhǔn)砝碼，自動(dòng)自校準(zhǔn)（ＨＲ－ＡＺ） | 洽詢(xún)
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| GP-K系列精密工業(yè)天平,31kg/6.1kg,1g/0.1g
GP-32K | 日本AND | 稱(chēng)重范圍31Kg / 6.1Kg 讀數(shù)精度1/ 0.1g 重復(fù)精度0.5g / 0.1g | 洽詢(xún)
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| FX-CT系列克拉天平,310g,0.001g
FX-300CT | 日本AND | 稱(chēng)重范圍（ct/g）
310/62
讀數(shù)精度(ct/g)
0.001/0.001
重復(fù)性(ct/g)
0.001/0.005
| 洽詢(xún)
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| FX-GD系列克拉天平,122g,0.001g
FX-120GD | 日本AND | 稱(chēng)重范圍
122g
讀數(shù)精度
0.001g
重復(fù)精度
0.001g
| 洽詢(xún)
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| 電子分析天平,310g,0.1mg
HR-300 | 日本AND | 精度 0.1mg | 洽詢(xún)
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| 分析天平,210g,0.1mg
GR-200 | 日本AND | 測(cè)量范圍:210克 | 洽詢(xún)
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| 日本AND AD-4212A系列高精度天平,0.1mg
AD-4212A | 日本AND | 稱(chēng)重單元與顯示單元分別放置通過(guò)2米電纜連接,電纜可延長(zhǎng)到最長(zhǎng)5米,顯示單元可安裝到易于操作的地方。 | 洽詢(xún)
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| FX-GD系列克拉天平,2200g,0.01g
FX-2000GD | 日本AND | 稱(chēng)重范圍2200g讀數(shù)精度0.01g重復(fù)精度0.01g | 洽詢(xún)
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| FX-GD系列克拉天平,220g,0.001g
FX-200GD | 日本AND | 稱(chēng)重范圍
220g
讀數(shù)精度
0.001g
重復(fù)精度
0.001g
| 洽詢(xún)
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